TY  - JOUR

T1  - Experimental verification of electrostatic boundary conditions in gate-patterned quantum devices

JO  - Journal of Physics D: Applied Physics

UR  - http://eprints.whiterose.ac.uk/137719/

PY  - 2018/06/20

AU  - Hou H

AU  - Chung Y

AU  - Rughoobur G

AU  - Hsiao TK

AU  - Nasir A

AU  - Flewitt AJ

AU  - Griffiths JP

AU  - Farrer I

AU  - Ritchie DA

AU  - Ford CJB

ED  - 

DO  - DOI: 10.1088/1361-6463/aac376

VL  - 51

IS  - 24

Y2  - 2024/09/20

ER  -