TY  - JOUR

T1  - Impact Ionization Coefficients in Al0.52In0.48P

JO  - IEEE Electron Device Letters

PY  - 2011/01/01

AU  - Ong JSL

AU  - Ng JS

AU  - Krysa AB

AU  - David JPR

ED  - 

Y2  - 2024/09/19

ER  -