TY  - GEN

T1  - Experimental verification of electrostatic boundary conditions in
  gate-patterned quantum devices

T2  - arXiv

PY  - 2018/06/24

AU  - Hou H

AU  - Chung Y

AU  - Rughoobur G

AU  - Hsiao TK

AU  - Nasir A

AU  - Flewitt AJ

AU  - Griffiths JP

AU  - Farrer I

AU  - Ritchie DA

AU  - Ford CJB

ED  - 

Y2  - 2024/09/20

ER  -