TY  - GEN

T1  - Probing the Sensitivity of Electron Wave Interference to
  Disorder-Induced Scattering in Solid-State Devices

T2  - arXiv

PY  - 2011/06/28

AU  - Scannell BC

AU  - Pilgrim I

AU  - See AM

AU  - Montgomery RD

AU  - Morse PK

AU  - Fairbanks MS

AU  - Marlow CA

AU  - Linke H

AU  - Farrer I

AU  - Ritchie DA

AU  - Hamilton AR et al

ED  - 

Y2  - 2024/09/20

ER  -