TY  - JOUR

T1  - Signals induced by charge-trapping in EDELWEISS FID detectors: Analytical modeling and applications

JO  - Journal of Instrumentation

PY  - 2016/10/11

AU  - Arnaud Q

AU  - Armengaud E

AU  - Augier C

AU  - Benoît A

AU  - Bergé L

AU  - Billard J

AU  - Blümer J

AU  - De Boissière T

AU  - Broniatowski A

AU  - Camus P

AU  - Cazes A et al

ED  - 

DO  - DOI: 10.1088/1748-0221/11/10/P10008

VL  - 11

IS  - 10

Y2  - 2024/09/20

ER  -