TY  - JOUR

T1  - Composition measurement of epitaxial Sc xGa1−xN films

JO  - Semiconductor Science and Technology

UR  - http://eprints.whiterose.ac.uk/101295/

PY  - 2016/05/19

AU  - Tsui HCL

AU  - Goff LE

AU  - Barradas NP

AU  - Alves E

AU  - Pereira S

AU  - Palgrave RG

AU  - Davies RJ

AU  - Beere HE

AU  - Farrer I

AU  - Ritchie DA

AU  - Moram MA

ED  - 

DO  - DOI: 10.1088/0268-1242/31/6/064002

VL  - 31

IS  - 6

SP  - 064002

EP  - 064002

Y2  - 2024/09/20

ER  -