TY  - JOUR

T1  - Substrate temperature measurement using a commercial band-edge detection system

JO  - Journal of Crystal Growth

PY  - 2007/04/01

AU  - Farrer I

AU  - Harris JJ

AU  - Thomson R

AU  - Barlett D

AU  - Taylor CA

AU  - Ritchie DA

ED  - 

DO  - DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2006.11.273

PB  - Elsevier BV

VL  - 301-302

SP  - 88

EP  - 92

Y2  - 2024/09/20

ER  -